探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。此定制探針臺(tái)配合擴(kuò)頻模塊使用，支持90G及以上的射頻測(cè)試。
•可配合市場(chǎng)主流擴(kuò)頻模塊進(jìn)行超高頻測(cè)試
•大行程高精度探針座，X-Y-Z-Theta 四軸控制
•最大可以測(cè)試12英寸樣品，探針臺(tái)chuck具備升降功能，便于樣品和探針的快速分離
•顯微鏡可以在2英寸*2英寸*2英寸范圍內(nèi)移動(dòng)，擴(kuò)大了顯微鏡視場(chǎng)
•兼容直流與高頻信號(hào)
•可以定制，可升級(jí)性強(qiáng)
•客制化
